金相顯微鏡的特殊分析法

    金相顯微鏡廣泛用于鋼鐵、巖石、晶體的研究，根據不同的需求，可以有多種不同的配置，在常用的金相分析中，有以下幾種分析方法：
偏振光顯微術
    主要特點是利用平面偏振光照射到試樣表面上，考慮目的物對平面偏振光的橢圓化效應。這種效應可反映目的物有關光學對稱性的信息，從而判斷它是晶體各向同性或各向異性。照明用的偏振光經起偏器得到,橢圓化效應則用檢偏鏡檢查。它主要用于辨認各向異性晶體不同取向夫人區域，或透明夾雜物的透視顏色。如果在垂直照明器和檢偏鏡之間放入一個靈敏色輝板，樣品的各個晶粒就可以由它們的特征顏色辨認。色輝板可以用來測定晶體擇優取向程度并進行回復個再結晶的研究，也可以對多相合金進行相分析及對非金屬夾雜物進行鑒定，在特定條件下還可以研究磁疇結構。

干涉顯微術
    其特點是顯微鏡光學系統中增加了特殊設計的光學裝置，使光線通過時被分成兩束，一束通過物鏡，在試樣上反射折回，重新傳過光束分離器進入目鏡；另一束光從一個比較板反射進入目鏡。這兩束反射光在光束分離器上相遇時會發生干涉，利用所產生的干涉條紋形狀，可以判斷輕微浮凸的空間形態，可根據條紋位移量和相鄰條紋間距之比，定量給出浮高度。多光束干涉的發展，使干涉條紋更為窄銳，從而提高了測量高度差的靈敏度。

相襯顯微術
    利用相位差信息（樣品表面由細微浮凸導致相位差），將反射光減弱到和衍射光振幅相近，并改變反射光的相位，使其和衍射光同相或相差π 。裝置是在普通金相顯微鏡的物鏡和目鏡之間的適當位置上放一個環形的相差板，將反射光減弱并移相，再安放一個相應的環形光闌，就可以把表面細微高低不同引起的光學相差干涉技術，把相襯和顯微干涉技術結合起來，能把細微的浮凸表現為彩色對比，更有效地提供表面細微組織的信息。

特種金相方法
    高溫和低溫金相一般的金相研究均在室溫下進行，只能觀察室溫下的組織及快冷固定下來的高溫組織。大多數組織隨溫度的升高或下降而變化。為了連續觀察觀察高、低溫時組織變化，可以將樣品置于油加熱或冷卻裝置的樣品臺上，并抽真空保證樣品在高溫下不被氧化，低溫下不凝聚水汽，其次要用長焦距的物鏡（透射或發射式）但由于低溫或高溫顯微鏡只能觀察到因其表面高低不同的變化，而有些表面反應與內部不同（如高碳鋼在高溫下可以在表面析出石墨，低溫下首先在表面形成馬氏體等），這種技術的應用有很大的局限性。

定量金相
    也稱體視金相它主要以體視學為基礎，研究顯微組織的定量關系。